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[学术报告]维特比联合检测器/解码器(JVDD)的性能评估和优化-Chan Kheong Sann

报告题目:维特比联合检测器/解码器(JVDD)的性能评估和优化

报告人:Chan Kheong Sann教授(南京工程学院)

报告时间:2019年12月11日(星期三),下午15:30 - 16:30

报告地点:大学城校区工学一号馆201

报告摘要:

联合维特比检测器/解码器(JVDD)是LDPC解码器的替代检测/解码方案,目前已被许多商业信道所采用。JVDD于2014年提出,是一种从LDPC编码的符号间干扰(ISI)通道波形中提取用户比特的替代方法。如果有足够的资源可供使用,JVDD是最佳的检测/解码算法,但是为了达到最佳效果,该算法需要大量的计算资源。此次报告中,我们将介绍传统的LDPC编码信道及其传统的迭代检测器/解码器(IDD)。随后,将讨论JVDD,并分析比较JVDD与IDD的算法性能。JVDD有着优于传统IDD的条件及性能,因此JVDD更适合应用在当前大多数的工作。

报告人简介:

Chan KheongSann是南京理工大学(NJIT)的教授。他于1995年在美国伊利诺伊州的西北大学获得工学学士学位,并于2000年在新加坡国立大学获得博士学位。随后,他加入了数据存储研究所(DSI),一所由新加坡政府资助的科学技术局下的研究院(A*STAR)。在此期间,他是编码和信号处理团队的负责人,并获得了该行业和新加坡政府的多项竞争性资助,并担任这些资助项目的负责人。2009年,他因在晶粒翻转概率(GFP)通道模型方面的杰出工作而获得信息存储工业协会(INSIC)技术成就奖,该模型作为未来的记录架构,已允许对二维磁记录进行实际评估。他于近期加入了南京工程学院,并担任通信学院的全职教授,并获得了江苏省杰出教授奖。

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